Fraunhofer-Institut für Elektronische NanosystemeNews
Mit Exzellenz auf Wachstumskurs: European Test and Reliability Center gewinnt renommierten Testexperten Ralf Arnold
Seit April 2026 verstärkt mit Ralf Arnold eine ausgewiesene Fachgröße mit langjähriger Testexpertise Europas neues Spitzenzentrum für Mikroelektronik. Der studierte Diplom-Ingenieur verfügt über knapp 40 Jahre Fach- und Führungserfahrung in leitenden Managementpositionen im Test-Engineering von Halbleiterinnovationen global agierender Unternehmen sowie im akademischen Umfeld. In seiner neuen Funktion als »Chief Scientist Test- and Design-for-Test-Concept« (DFT) wird er die fachliche und technologische Weiterentwicklung des European Test and Reliability Centers (ETRC) am Fraunhofer ENAS mitgestalten, Testroadmaps vorantreiben und zur Priorisierung zukunftsrelevanter Themen beitragen. Zum Start seiner neuen Aufgabe gewährt der gebürtige Schwabe im Interview exklusive Einblicke in seine umfassende Branchenexpertise, spricht von Menschen, die ihn inspiriert haben und zeigt, wie sich durch die Orchestrierung modernster Teststrategien Spitzenqualität sowie höchste Standards für Halbleiterchips in Europa verwirklichen lassen.
Herr Arnold, das Thema Test zieht sich wie ein roter Faden durch Ihre berufliche Laufbahn: Sie verfügen über fast 40 Jahre Fachkompetenz in der Entwicklung von Testlösungen für Halbleiterinnovationen. 30 Jahre davon waren Sie beim Halbleiterhersteller Infineon tätig. Sie sind Inhaber von 14 Patenten im Bereich Test und haben zahlreiche Projekte als Testingenieur, sowie mehr als 60 Vorhaben als Test- und DFT-Konzept-Spezialist begleitet. Was macht das Thema für Sie persönlich so faszinierend?
Das Thema Test ist tatsächlich ein konstanter Begleiter in meinem Berufsleben und das von Anfang an. Schon kurz nach Abschluss meines Studiums der Nachrichtentechnik Ende der 1980er Jahre hatte ich die einmalige Gelegenheit, beim Aufbau eines Forschungslabors für Halbleitertests an der Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg mitzuwirken und dort an neuartigen Prüfmethoden zu arbeiten.
Damals wie heute ist es immer wieder ein ganz besonderer Moment, wenn ein Halbleiterchip neu entwickelt wird und dieser auf seinem Weg für den weltweiten Einsatz auf seine Fehlerfreiheit hin untersucht werden muss. Die Spannung, die dabei in der Luft liegt, wenn er das erste Mal in Betrieb genommen wird, die Herausforderung, welche Tests durchzuführen sind, um ihn auf Herz und Nieren zu prüfen, sowie die Anspannung und Nervosität aller Beteiligten, ob er wie geplant funktioniert – all das ist jedes Mal wie ein kleines Abenteuer, das das ganze Team mitfiebern lässt.
Genau das ist es, was mich auch während meiner Zeit bei Infineon stets angetrieben hat – die Neugier und die Begeisterung, nicht nur bei einer Produktneuentwicklung von Anfang an mit dabei zu sein, sondern auch Teil von technologischen Durchbrüchen für kommende Generationen zu sein.
Von digitalen und Mixed-Signal-Bausteinen, über SRAM- (Static Random Access Memory) und ROM-Modulen (Read Only Memory) bis hin zu High Speed- oder Power-Komponenten – für alle diese Module und Baugruppen konnte ich in unzähligen erfolgreichen und komplexen Projektvorhaben während meiner beruflichen Laufbahn Test- und DFT-Konzepte sowie modernste Testmethoden für Halbleiter entwickeln und so die Leistungsfähigkeit, Qualität und Funktionalität neuer Chips testen.
Damit wird die Voraussetzung für ein Höchstmaß an Zuverlässigkeit und Sicherheit in vielen Bereichen unseres täglichen Lebens geschaffen. In einem Auto sind heute beispielsweise zwischen 60 und 90 Mikrocontroller verbaut. Diese Halbleiterbauelemente sind die »Schaltzentralen« in modernen Pkws und steuern eine Vielzahl von Prozessen – von Notbrems- und Spurhalteassistenten über die Airbag-Auslösung bis hin zur Türentriegelung. Bereits ein kleiner Defekt an einem einzelnen dieser Halbleiterbauelemente kann große Auswirkungen auf das Gesamtsystem haben und Risiken für Insassen, Passanten und andere Verkehrsteilnehmer bergen. Genau deshalb ist es so entscheidend, diese Gefahrenpotentiale frühzeitig aufzudecken und die einwandfreie Funktion von Chips sicherzustellen – für kompromisslose Qualität, absolute Verlässlichkeit und größtmögliche Sicherheit als Grundlage für uneingeschränktes Vertrauen in Technik, ganz im Sinne des ETRC-Mottos »Innovation needs Trust«.
Umso mehr freue ich mich, mit meinem Know-how Teil des ETRC zu sein und an genau diesen Stellschrauben modernster Technologien mitzuwirken, um Vertrauen in Innovationen weiter stärken zu können.
Welchen Aufgaben widmen Sie sich in Ihrer neuen Rolle im Rahmen des ETRC, um diese Vertrauenswürdigkeit in Mikroelektronik zu steigern, und worauf sind Sie bereits jetzt gespannt?
Durch meine persönlichen und jahrzehntelangen Praxiserfahrungen kenne ich die Bedürfnisse der Industrie im Bereich Halbleitertests und Zuverlässigkeitsbewertung aus erster Hand. Dieses Branchenverständnis ist ein wichtiger Schlüssel, um den weiteren Aus- und Aufbau des ETRC zukunftsgerichtet zu gestalten. Unser Ziel ist es, neue Teststrategien und Zuverlässigkeitsroutinen für Halbleitertechnologien zu entwickeln, die den steigenden globalen Anforderungen modernster Mikroelektronik gerecht werden. Sie robuster, hocheffizient, ausfallsicher und langlebiger zu machen, ist zentrales Anliegen unseres Handelns.
Dabei wird ein besonderer Fokus auf innovativen Testansätzen liegen, um zukünftig völlig neue Fehlermechanismen aufzudecken, die mithilfe etablierter Verfahren und Testmethoden bisher nicht identifiziert werden konnten. Dadurch sollen insbesondere sicherheitskritische Bereiche, wie die Automobilindustrie, noch besser unterstützt werden und beispielsweise das Autofahren der Zukunft noch sicherer werden. Besonders spannend finde ich dabei, heute schon an morgen zu denken und bereits jetzt an Zukunftsthemen zu forschen und zu arbeiten, die erst in einigen Jahren an Relevanz gewinnen werden.
Wichtig ist mir außerdem, neue Entwicklungen im Bereich »Test« durch den Austausch auf internationalen Konferenzen frühzeitig aufzunehmen und für das ETRC nutzbar zu machen. Ob als Referent oder als Teil des wissenschaftlichen Programmkomitees – Konferenzen, Tagungen und Fachveranstaltungen liefern immer wieder wertvolle neue Denkanstöße und frische Perspektiven. Das möchte ich auch in Zukunft weiter aktiv verfolgen und die Arbeit des ETRC durch starke Impulse aus der Branche bereichern.
Mit all unseren Aktivitäten leisten wir als ETRC einen entscheidenden Beitrag – zur Stärkung der Zukunftsfähigkeit des Wirtschaftsstandorts Chemnitz, zur Festigung der Rolle Sachsens als bedeutende Hightech-Region und zur Steigerung der Sichtbarkeit von Europas Exzellenz in der Mikroelektronik. Teil dieser Vision zu sein, reizt mich sehr.
Auf welche Begegnungen freuen Sie sich dabei besonders?
Vor allem freue ich mich auf die Zusammenarbeit mit meinen ETRC-Kolleginnen und -Kollegen. Ich schätze es sehr, mich mit vielen neuen Kontakten auszutauschen, aber auch mit langjährigen Wegbegleitern und geschätzten Expertinnen und Experten der Branche erneut zu einem schlagkräftigen Team zusammenzuwachsen. Sowohl mit Prof. Dr. Harald Kuhn als auch mit Prof. Dr.-Ing. Ulrich Heinkel, Leiter der Professur für »Schaltkreis- und Systementwurf« an der Technischen Universität Chemnitz, verbindet mich eine langjährige und vertrauensvolle berufliche Vergangenheit.
Auch erfüllt es mich mit großer Freude, meinem Mentor Prof. Dr. Werner Wolz in Chemnitz erneut zu begegnen. Er ist heute als Honorarprofessor für »Grundlagen des Tests und des testfreundlichen Entwurfs« an der Technischen Universität Chemnitz tätig und hat mir vor mehr als 30 Jahren den Zugang zum Thema Test geebnet. Von ihm habe ich unheimlich viel gelernt, wofür ich ihm bis heute sehr dankbar bin. Er hat mir gezeigt, dass Wachstum und Innovation dort entstehen, wo der Mut beginnt, bekannte Pfade zu verlassen. Denn nur wer das Unbekannte wagt, kann über sich selbst hinauswachsen und öffnet den Blick für Neues und damit für Fortschritt.
Wenn Sie sich gerade nicht mit neuen Teststrategien für Halbleiterinnovationen beschäftigen, wo findet man Sie an einem freien Nachmittag und was motiviert Sie persönlich jeden Tag aufs Neue?
Ich habe einen Faible für amerikanische Oldtimer und Klassiker. Ich liebe es, mit meinem Ford Mustang, Baujahr 1966, Oldtimer-Treffen zu besuchen oder mit meinem 2007er Ford Mustang Ausflüge ins Grüne zu unternehmen. Außerdem genieße ich es, unterwegs zu sein und neue Orte zu entdecken – ganz gleich ob in den USA, Europa oder in Asien. Hier finde ich Ausgleich und Inspiration für neue Projekte und anstehende Herausforderungen – und das beruflich wie privat.
Vielen Dank, Herr Arnold, für dieses Gespräch. Wir wünschen Ihnen viel Erfolg und einen guten Start in Ihrer neuen Funktion.
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