Mittwoch | 2. September 2026 | 13:00 - 22:00 UHR Veranstaltungsort: Forschungszentrum MAIN, TU Chemnitz (Rosenbergstraße 6, 09126 Chemnitz) |
| 13:00 – 13:15 Uhr |
Begrüßung Prof. Dr. Harald Kuhn, Fraunhofer ENAS und Prof. Dr. Bernhard Wunderle, TU Chemnitz |
| 13:15 – 14:00 Uhr |
Grußworte Prof. Dr. Gerd Strohmeier, Rektor der TU Chemnitz Oberbürgermeister Sven Schulze, Stadt Chemnitz Prof. Dr. Oliver Schmidt, Direktor des Forschungszentrums MAIN der TU Chemnitz Prof. Dr. Harald Kuhn, Fraunhofer ENAS Prof. Dr. Bernhard Wunderle, TU Chemnitz |
| 14:00 – 14:15 Uhr |
Eröffnung des CRYME – Cryo-Lab for Materials and Electronics Packaging Chemnitz |
| 14:15 – 15:00 Uhr |
Kaffeepause |
| Wissenschaftssession |
| 15:00 – 15:30 Uhr |
Multi-scale thermo-mechanical characterisation for quantum- & cryo-packaging Prof. Dr. Bernhard Wunderle, TU Chemnitz, Professur Werkstoffe und Zuverlässigkeit Mikrotechnischer Systeme |
| 15:30 – 15:50 Uhr |
Technology Modules for Quantum Technology Systems Dr. Danny Reuter, TU Chemnitz, Zentrum für Mikro- und Nanotechnologien ZfM |
| 15:50 – 16:10 Uhr |
Integration and Cryogenic Testing of Single-Photon Avalanche Diodes (SPADs) for Ion Trap Quantum Computing Dr. Lukas Uhlig, Fraunhofer ENAS |
| 16:10 – 16:30 Uhr |
Advancing Reliability Characterization into the Cryogenic Domaine. Dr. Remi Pantou, Fraunhofer ENAS |
| 16:30 – 17:00 Uhr |
Kaffeepause |
| Industrie-Session |
| 17:00 – 17:30 Uhr |
The Road to Scalable Ion Trap QPUs: An Industrial Perspective Matthias Dietl, Infineon Technologies Austria |
| 17:30 – 18:00 Uhr |
Tbd André Nauen, EleQtron GmbH |
| 18:00 – 18:35 Uhr |
Tbd Dr. Thomas Olschewski, Oxford Instruments | WITec GmbH und Dr. Tobias Scharff, attocube systems GmbH |
| 18:35 – 18:45 Uhr |
|
| 18:45 – 22:00 Uhr |
Get together / Networking und CRYME-Labortouren |
Donnerstag | 3. September 2026 | 9:00 - 15:30 UHR Veranstaltungsort: Fraunhofer enas (Technologie-campus 3, 09126 chemnitz) |
| 09:00 – 09:10 Uhr |
Begrüßung zu Tag 2: Characterization, Test and Reliability – CTR Prof. Dr. Daniel Kriesten, Fraunhofer ENAS |
| Session: Silicon Saxony – Arbeitskreis »Test, Analysis & Reliability« |
| 09:10 – 09:35 Uhr |
Introduction to Silicon Saxony and the Working Group »Test, Analysis & Reliability« Dr. Martina Vogel, Silicon Saxony |
| 09:35 – 10:00 Uhr |
Tbd Verhoeven Marcus, aSpect Systems GmbH |
| 10:00 – 10:25 Uhr |
Driving Innovation in Semiconductor Test: Trends, Challenges, and ATE-Evolution Matthias Werner, Advantest Corporation |
| 10:25 – 11:00 Uhr |
Kaffeepause |
| Session: Advanced CTR |
| 11:00 – 11:25 Uhr |
Strategic Unique Selling Propositions of FMD/APECS through CTR Johannes Rittner, Forschungsfabrik Mikroelektronik Deutschland FMD |
| 11:25 – 11:50 Uhr |
EDC Semiconductor Test, Analyse- und SCM Services Markus Gaitzsch, EDC Electronic Design Chemnitz GmbH |
| 11:50 – 12:15 Uhr |
The ETRC at Fraunhofer ENAS: Labs and Tools Prof. Dr. Daniel Kriesten, Fraunhofer ENAS |
| 12:15 – 13:15 Uhr |
Mittagspause |
| Session: CTR on Another Level |
| 13:15 – 13:40 Uhr |
Tbd Konrad Domes, Saxogy GmbH |
| 13:40 – 14:05 Uhr |
Highly Parallel Electronic Parameter Testing Method Efx Dr. Ulrich Pohl, ATEip GmbH |
| 14:05 – 14:30 Uhr |
Next Level of Quality in a World of Heterogeneous Chip Integration Ralf Arnold, Fraunhofer ENAS |
| 14:30 – 14:40 Uhr |
Verabschiedung Prof. Dr. Daniel Kriesten, Fraunhofer ENAS |
| 14:45 – 15:30 Uhr |
Individuelle Labtouren |