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Elektromagnetische Verträglichkeit (EMV) ist eine der zentralen Herausforderungen der Elektronikentwicklung. Sie zählt zu den häufigen Ursachen für Verzögerungen im Produktionszyklus. Besonders KMU stehen vor der Herausforderung EMV-Probleme schnell zu identifizieren und zu beheben, ohne über umfangreiche Messtechnik oder Expertenwissen zu verfügen. Komplexe elektromagnetische Zusammenhänge führen dazu, dass Emissionsprobleme oft erst spät in der Entwicklung erkannt werden. Die Fehlersuche nach einer nicht bestandenen EMV-Prüfung erfolgt in vielen Fällen durch iterative Änderungen am Layout und basiert häufig auf dem Trial-and-Error Prinzip.

Im Rahmen dieses Workshops stellt das Fraunhofer ENAS einen alternativen Ansatz für ein EMV-Debugging mit Hilfe eines robotergeführten Nahfeldscanners vor. Hochauflösende elektromagnetische Feldmessungen können einzelne Emissionsquellen räumlich sichtbar machen, ermöglichen eine direkte Zuordnung von EMV-Hotspots zu konkreten Layoutstrukturen und unterstützen damit die Designoptimierung.

Anhand von Erfahrungsberichten aus der Industrie wird gezeigt, wie solche Nahfeldscans eingesetzt werden können, um EMV-Probleme zu analysieren und Entwicklungszyklen zu verkürzen.

In weiteren Vorträgen berichten Unternehmen und Forschungsdienstleister über ihre eigenen Erfahrungen und Lösungsansätze aus der Praxis.

Insbesondere für KMU bietet dieser Workshop die Chance, ihre eigenen Erfahrungen in die Diskussion mit den anwesenden Experten einzubringen und gemeinsam Ideen und Lösungen zu generieren, damit zukünftige EMV-Probleme frühzeitig erkannt, die Anzahl von Prototypen reduziert und die Entwicklung von marktreifen Produkten beschleunigt wird.