Unser Leistungsangebot für Ihren Erfolg
- Simulation von Halbleiterprozessen
- Wissens- und datenbasierte Modelle von Halbleiterprozessen
- Materialmodelle für Optik und Elektronik
- Design und Layout von Komponenten und Systemen (MEMS, Beyond CMOS, Quanten und Photonik, Elektronik)
- Simulation für Zuverlässigkeitsbewertungen elektronischer Baugruppen und Systeme
- Design für Test und Zuverlässigkeit
Unsere Kernkompetenzen zur Lösung Ihrer Herausforderungen
- Atomistische und kontinuumsbasierte Materialmodellierungskompetenz für Optik und Elektronik (z. B. Metamaterialien, Nanomaterialien)
- Design- und Simulationskompetenz in Mikrosystemtechnik und Mikroelektronik
- Layout und Design von MEMS, Beyond CMOS, Quanten-, elektronischen und photonischen Komponenten und Systemen
- System- und Elektronik-Design und -Simulation
- EMV-Simulationen für elektronische Komponenten und Systeme
- Modelle für die Simulation (FEM, lumped-elements, multi-physics, elektrisch, optisch)
- Simulationsexpertise mit technologischer Kompetenz für Halbleiterprozesse
- Physikbasierte Modelle für virtuelles Prototyping in Halbleiter- und Nanotechnologie
- Prozess- und Materialmodelle, insbesondere für Dünnschichttechnologien
- Wissensbasierte Prozessmodelle aus Daten, Wissen, Modellen und KI
- Schnelle digitale Modelle durch Kompetenz in KI, Numerik und Hochleistungsrechnen
- Kompetenz in thermo-mechanischer Zuverlässigkeitsbewertung
- Entwurf und Aufbau von Ausrüstungen für das effiziente Prüfen der elektro-thermo-mechanischen Zuverlässigkeit elektronischer Baugruppen und Systeme
- Erforschung der thermo-mechanischen Degradationsvorgänge, die das Versagen der Elektronik-Komponenten und -Systeme ursächlich auslösen
- Modellierung der Degradationsvorgänge unter Nutzung fortschrittlicher Konzepte der Bruch- und Schädigungsmechanik
- Quantifizieren und Modellierung des zeitlichen Voranschreitens der Schädigung in den elektronischen Baugruppen und Systemen zum präzisen Abschätzen der Lebensdauer
- Entwicklung experimentell validierter Simulationsmethoden zum Optimieren des Designs neuer Produkte sowie zum In-situ-Überwachen der Elektronik-Zuverlässigkeit in deren Betrieb
- Entwicklung von Kompaktmodellen und Digitaler Zwillinge für die Zuverlässigkeitsbewertung elektrischer Baugruppen und Systeme entlang der gesamten Wertschöpfungskette
Unsere Forschungsthemen für zukünftige Innovationen
- Design und Implementierung von wissensbasierten Prozessmodellen
- Verwendung von heterogenen Plattformen für KI-Beschleunigung
- Vorhersage von Test- und Messergebnissen durch komplexe datenbasierte Modelle
- FAST (Flexible, Appropriate, Structured, Transparent)-Modellierung des elektro-thermo-mechanischen Verhaltens der Elektronik-Komponenten und -Systeme
- DfR-Simulation des elektro-thermo-mechanischen Zuverlässigkeitsverhaltens entlang der Wertschöpfungskette (methodischer Ansatz: Kompaktmodelle)
- Kompakte Digitale Zwillinge für das Implementieren in ECS und in Gesamtsystem-Simulationen (z. B. Auto, Roboter, Kraftwerksanlage)
- Simulation von Prozessen der Halbleitertechnologie
- Simulation von Materialien der Halbleitertechnologie und von Nanobauelementen
- Simulationen für die Entwicklung neuer Materialien der Energiewende
- Prozessmodelle für die Nachhaltigkeitsanalyse von Fertigungszyklen
- Design- und Maskenservice für MEMS- und MOEMS-Komponenten und Nanobauelemente
- PCM-Strukturen für die Prozesskontrolle
- PHM: Hierarchisches System hybrider Modelle (Hierarchie: System « Feature / Hybrid: PoF- & DD-Ansatz)
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme