41. Chemnitzer Seminar

Das 41. Chemnitzer Seminar findet dieses Mal unter dem Titel »Test and Reliability Solutions – neue Lösungen für Elektronikkomponenten und -systeme« statt.

Mit modernsten Test- und Zuverlässigkeitsmethoden wird nicht nur höchste Qualität und Langlebigkeit von Halbleiterprodukten sichergestellt, sondern auch Innovationen von Mikroelektronikkomponenten und -systemen durch verkürzte Entwicklungszeiten beschleunigt. In Chemnitz bündelt sich die Kompetenz beider Bereiche zu einem einzigartigen Ökosystem für branchenübergreifende Testlösungen und Zuverlässigkeitsbewertungen.

Deshalb möchten wir genau hier an den beiden Seminartagen mit Ihnen unterschiedliche Fragstellungen aus den Bereiche Test und Zuverlässigkeit diskutieren und haben dazu Expert*innen aus Industrie und Wissenschaft für ein abwechslungsreiches Vortragprogramm eingeladen. Neben den Vorträgen laden wir zu einer Posterausstellung und zu bilateralen Meetings ein und bieten genügend Raum für Austausch und Networking aller Teilnehmenden.

Die Sessions werden sich auf folgende Themen beziehen:

• Testmethodik
• MEMS-Test
• Power-Test
• Zuverlässigkeit - Design for Reliability and Prognostic Health Management
• KI/Daten