Spektroskopische Methoden insbesondere im sichtbaren, nahinfraroten und infraroten Spektralbereich ermöglichen eine exakte Bestimmung der Transmissions- oder Reflexionseigenschaften verschiedener Materialien wie Element- und Verbindungshalbleiter sowie Filterelemente, Schichten und Schichtsysteme (Antireflexionsschichten, polarisierende Beschichtungen). Daneben können durch schrittweise Abtastung des Interferogramms (Step Scan Modus) dynamische spektrale Auswirkungen und zeitaufgelöste spektroskopische Messungen im Nanosekundenbereich untersucht werden.