Nürnberg  /  22.5.2012  -  24.5.2012

SENSOR+TEST 2012

Die Messtechnik-Messe

SENSOR+TEST 2012

Stand 330 / Halle 12

Vom 22.-24. Mai 2012 findet in Nürnberg, die Messe SENSOR+TEST 2012 mit begleitenden Kongressen statt. Die Internationale Fachmesse für Sensorik sowie Mess- und Prüftechnik gibt einen branchenübergreifenden Überblick zur messtechnischen Systemkompetenz.

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS präsentiert sich auf der SENSOR+TEST 2012 am Stand 330 in Halle 12. Im Mittelpunkt des diesjährigen Auftritts steht in NIR/MIR-MEMS-Spektrometer, das gemeinsam mit der TQ-Systems GmbH entwickelt wurde. Außerdem stellen wir Sensoren und Sensorsysteme zum Condition Monitoring vor.

Vortrag:
Prof. Dr. Thomas Otto vom Fraunhofer ENAS präsentiert am Donnerstag, den 24. Mai 2012 (12:00-12:30 Uhr) auf dem Forum in Halle 12 einen Vortrag zum Thema "Innovative MEMS-Spektrometer für den Nah- und Mittelinfrarotbereich: Technologie und Anwendung".