3D/MEMS Packaging

Anwendungsbezogene Systemintegration und Charakterisierung

Das Fraunhofer ENAS gehört zu den global führenden Instituten auf dem Gebiet des MEMS Packaging auf Wafer- und Komponentenebene. Das Waferlevel MEMS Package muss den erwünschten, zu messenden Medien (z.B. Flüssigkeiten, Gase oder Licht) einen Zugang erlauben, aber gleichzeitig unerwünschte Einflüsse von außen abschirmen. Diese Hausungstechnologien werden nicht nur an passiven Elementen, wie Inertial- oder Gassensoren, angewandt, sondern auch für aktive Elemente wie Mikrospiegel und Druckköpfe verwendet. Im Hinblick auf die weiter fortschreitende Systemintegration sind auch elektronische Komponenten in das Mikrosystem einzubeziehen. In der Abteilung System Packaging werden dazu Untersuchungen durchgeführt, die neben der hybriden Integration auf Chipebene hauptsächlich die Integration auf Waferlevel betrachtet. Bei einem solchen vertikalen Stapel ist besonders auf die Einflüsse der einzelnen Verbindungstechnologien (Temperatur, Druck) aber auch auf das elektrische und thermische Verhalten des Systems zu achten. Für die Charakterisierung und Evaluierung der Technologien hinsichtlich Dichtheit und Festigkeit stehen präzise Messgeräte und Bewertungsrichtlinien zur Verfügung.

 

Wafer-to-Wafer Bonden

Permanente und temporäre Fügeverfahren zur Verbindung von Wafersubstraten

 

Chip-to-Wafer und Chip-to-Chip Bonden

Zweidimensionale (2D) Integration von Funktionsblöcken in einem Package oder auf einem Substrat

 

3D Integration

Mechanische und elektrische Kontaktierung (TSV, TGV)

 

Elektronische Sondersubstrate und Interposer

Hybridintegration auf verschiedenartigen Substratklassen

 

Temporäres Bonden, Waferdünnen und Dünnwafer-Handling

Mechanische Stabilität durch temporäres Bonden