Power Cycling

Lastwechseltests (Power Cycling Tests)

Lastwechseltests spielen eine bedeutende Rolle bei der Zuverlässigkeitsbewertung neuer Leistungselektronikaufbauten und -technologien. Dazu werden die Prüflinge mit Hilfe von dedizierten Lastwechseltestständen (Bild 1) entweder bis zu einer vorher definierten Zyklenanzahl oder bis zum Lebensdauer (End-of-Life-Test) getestet.

Merkmale:

  • Durchführung von aktiven Lastwechseltests an (leistungs-)elektronischen Aufbauten zur Zuverlässigkeits- und Lebensdauerabschätzung (z.B. im Rahmen einer Technologieentwicklung, Robustheitsanalyse oder Qualifikation)
  • Hohe Flexibilität bei der Teststandanpassung und Durchführung (z.B. an unterschiedliche Prüflingstypen und Anforderungsprofile)
  • Bestimmung und Protokollierung diverser elektrischer und thermischer Bauteilparameter während des Testlaufs (z.B. der Sperrschichttemperatur mittels TSEP-Methode, ggf. Verifizierung mit IR-Messungen, Zth-Messungen)
  • Kombinierbar mit In-situ-Digitalmikroskopie
  • Umfangreiche Fehleranalytik (Ultraschallmikroskopie, thermische Impedanzanalyse, 3D Computertomographie, Mikroskopie, …) möglich
  • Ableitung von Lebensdauermodellen

Technische Spezifikation:

  • 3 unabhängige Teststände
  • Simultane Testung von 8 bzw. 12 Prüflinge pro Testlauf
  • Leistungsbereich:
    • Max. Heizstrom: 1800A (12V)
    • Max. Heizspannung: 80V (ca. 100A)
  • Probentypen:
    • Diskrete Leistungsbauelemente, Leistungsmodule
    • Dioden, MOSFETs, IGBTs, Bipolartransistoren, …         
  • Messung und Aufzeichnung diverser Parameter während der Tests, inklusive Zth-Messung sowie Ableitung von Strukturfunktionen
  • Teststrategien: Konstante Leistung / Timing (Optional: Konstante Sperrschichttemperatur, Konstante Verlustleistung, Konstanter Kühlköpertemperaturhub)
  • Kühlstrategien:
    • Flüssigkeitskühlung oder Luftkühlung
    • Konstante Kühlmitteltemperatur: -20 bis 120°C (optional: -55 bis 200°C)
    • Überlagerung von passiven Temperaturwechseln (Alternierende Kühlmitteltemperatur)
    • Einseitige- und Doppelseitige Kühlung
  • IR-Kamera:
    • Auflösung: 640 x 480, bis zu 25 µm (Makroobjektiv)
    • Bildfrequenz: 50 Hz (bis zu 200 Hz im Teilbildmodus)
    • Temperaturbereich / Thermische Auflösung: -40 bis +650°C / <30 mK