UV-Kontakt- und UV-Proximity-Lithografie

Negativsprühlack strukturiert für Lift-Off Prozess in 160 µm tiefen Si-Kavitäten.
© Fraunhofer ENAS
Negativsprühlack strukturiert für Lift-Off Prozess in 160 µm tiefen Si-Kavitäten.
Strukturierter Permanent-Trockenfilmresist nach dem Hardbake (200 °C).
© Fraunhofer ENAS
Strukturierter Permanent-Trockenfilmresist nach dem Hardbake (200 °C).

Zur UV-Kontakt- und Proximitybelichtung wird ein Mask Aligner MA200 der Firma SUSS MicroTec verwendet. Dieser verfügt über zwei verschiedene Justagesysteme: Vorderseiten- und Rückseitenjustage (Frontside- und Backside Alignment). Um den Schutz von doppelseitigen Strukturen wie bei MEMS zu gewährleisten, werden die Substrate mit einem Edge-Handling-System durch die Anlage transportiert und prozessiert. Im Anschluss an die Belichtung werden die belackten Substrate mittels Tauch- oder Puddle-Entwicklung entwickelt.

Vor der Belichtung müssen die 150 mm und 200 mm Substrate (Si-Wafer, Glaswafer, Verbunde aus Si-Si oder Glas-Si …) belackt werden. Dies erfolgt mittels Spin-On oder Sprühbelackung. Es kommen sowohl Positiv- als auch Negativlacke zum Einsatz, mit denen Schichtdicken von ca. 900 nm bis 60 µm (100 µm SU-8) erreicht werden. Trockenfilmresiste können ebenfalls mittels Laminieren auf Wafern genutzt werden. Die erzeugten Lackmasken werden für die verschiedensten Nachfolgeprozesse benötigt. Hierzu zählen Nass- und Trockenätzen, Lift-Off, Galvanik (wässrige und ionische Elektrolyte), Bonden (SU-8), etc.

Highlights:

  • Mix und Match Mask Aligner mit Projektionslithographie (Intralevel und Interlevel)
  • Doppelseitenlithografie (auch in Kombination mit Stepper möglich)
  • Sprühbelackung (Positiv- und Negativresist)
  • Belichtung in Kavitäten
  • Permanent-Trockenfilmresist z. B. für Mikrofluidik- oder Bio- Anwendungen.