Advanced System Engineering

Dienstleistungen und Messverfahren

Die Abteilung ASE offeriert kundenspezifische Entwicklungen für Industrie und Forschungsinstitute. Alle aufgeführten Forschungsbereiche stehen für Dienstleistungen zur Verfügung. Im Folgenden ist eine kurze Übersicht über besondere Dienstleistungen und verwendete Messverfahren aufgelistet.

Wir bieten folgende Dienstleistungen an:

  • Entwicklung und Design von kundenspezifischen elektronischen Modulen
  • Modellbasierte Entwicklungsmethoden für heterogene Systeme
  • Entwurf und Optimierung von HF-Antennenstrukturen und -verbindungen (RFID, WLAN und andere) basierend auf Simulations- und Messverfahren
  • Entwicklung von drahtgebundenen und drahtlosen Sensorsystemen
  • EMV- und EMZ-Analyse, -Charakterisierung und -Modellierung von mikro- und nanoelektronischen Schaltungen und parasitären elektromagnetischen Effekten
  • Signalintegritätsanalysen

 

Ausstattung:

  • 3D-Nahfeldscanner für DUT-Größen bis 50 x 80 x 50 cm³:
    Frequenzbereich: DC – 6 GHz; optische Kon­turerfassung der DUT-Oberfläche
  • 4-Port-Netzwerk-Analysator (Agilent N5230A):
    Frequenzbereich: 30 kHz – 20 GHz;
    Anwendung: vektorielle Charakterisierung von 4-Port-Netzwerken
  • Impedanz-Analysator (Agilent 4294A):
    Frequenzbereich: 40 Hz – 110 MHz;
    Anwendung: Charakterisierung von konzentrierten komplexen Komponenten
  • Spektrum Analysator (HP 8563 E):
    Frequenzbereich: 9 kHz – 26 GHz;
    Anwendung: skalare Frequenzbereichsmessungen, z.B. Analyse des Abstrahlspektrums eines DUT
  • Communication Signal Analyzer (Tektronix CSA 803):
    Zeitbereichsreflektometrie von Übertragungs­strecken (20 GHz Bandbreite), Lokalisierung von Impendanz-Störungen in der Leitungsübertragung (z.B. in Kabeln) mit ~5mm Auflösung, High-Speed Sampling Oszilloskop (bis 50 GHz)
  • FCC TEM Crawford Zelle (FCC-TEM-JM1):
    Frequenzbereich: DC – 1200 MHz;
    Anwendung: Einstrahlungs-/Abstrahlungsuntersuchun­gen für kleine Messobjekte wie Chips, Module etc.
  • Waferprober Cascade Summit 9000:
    Anwendung: direkte HF-konforme Messungen von Wafern oder Mikrosystemen. Die Messspitzen (Pro­bes) können im Mikrometer-Bereich platziert werden.
  • 4-Kanal Oszilloskop (LeCroy waveRunner 640Zi):
    Bandbreite: 4 GHz, 40 GS/s;
    Anwendung: Charakterisierung von hochfrequenten Zeitbereichssignalen, Einzelfall-Analysen von Langzeitintervallen durch Software-gestützte Ereignis-Triggerung, synchrone Analyse von analogen (4 Kanäle) und digitalen (18 Kanäle) Signalen.

 

Simulationumfeld:

  • CST STUDIO SUITE:
    komplette Simulationsumgebung für elektromagnetische 3D-Untersuchungen;
    Anwendung: Analyse von elektromagnetischem, elektrostatischem, magnetostatischem und thermischem Verhalten von 3D-Strukturen, Kombination von 3D-Strukturen mit 3D-Simulation und Schalltungssimulationsergebnissen.
  • ANSYS multiphysikalische Anwendung:
    3D-Simulation von elektromagnetischen, mechanischen und thermischen Effekten.