Chemnitzer Seminare

Das Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS lädt herzlich zu dem Seminar "Zuverlässigkeit und Energieaspekte für zukünftige Elektronikentwicklungen" ein. Das Seminar findet am 08.Juli 2011 von 9:00 bis 15:00 Uhr im Heinz Nixdorf MuseumsForum in Paderborn statt.

Die Abteilung Advanced System Engineering (ASE) des Fraunhofer ENAS in Paderborn beschäftigt sich mit dem Entwurf, der elektrischen Simulation und der Charakterisierung von mikro- und nanoelektronischen Systemen sowie Mikrosystemen.

Programm:

Einführung und Übersicht

9:00 Uhr
Dr. C. Hedayat, Fraunhofer ENAS, ASE
Vorstellung der Abteilung ASE des Fraunhofer ENAS und Einführung

9:15 Uhr
Prof. Dr. U. Hilleringmann, Universität Paderborn
Fraunhofer ENAS und die Universität Paderborn

9:30 Uhr
Prof. Dr. S. Hellebrand, Universität Paderborn
Zuverlässiger Schaltungsentwurf bei Soft Errors und Parameterschwankungen

10:00 Uhr
C. Rust, Morpho
Sicherheit und Zuverlässigkeit in Smart Cards

10:20 Uhr
Kaffeepause

10:40 Uhr
Dr. D. Domes, Infineon Technologie AG, Warstein
Aspekte des EMV-gerechten Designs mit Blick auf Leistungshalbleitermodule

11:00 Uhr
Dr. J.-P. Sommer, Fraunhofer ENAS, MMC
Finite-Elemente-Analyse und experimentelle Methoden zur Beurteiung der Zuverlässigkeit elektronischer Aufbauten

11:20 Uhr
V. Geneiß, Fraunhofer ENAS, ASE
Einsatz moderner Simulationsverfahren zur Analyse multiphysikalischer Problemstellungen in der praktischen Anwendung

12:00 Uhr
Mittag

Im Anschluss an die Einführung stehen den Teilnehmern zwei unterschiedliche Seminare offen:

Energieaspekte der Zukunft

13:00 Uhr
M. vor dem Berge, Christmann Info.
Energieeffizienz von Serversystemen

13:30 Uhr
M.-J. Büker, Universität Paderborn
Drahtlose Energieübertragung am Beispiel SUPA

14:00 Uhr

Dr. S. Kurth, Fraunhofer ENAS, MDI
Überwachung von Hochspannungsleitungen durch ein energieautonomes Sensornetzwerk

Zuverlässigkeit moderner Systeme

13:00 Uhr
Prof. Dr. M Albach, Universität Erlangen
EMV in der Leistungselektronik

13:30 Uhr
G. Schubert, Continental
EMV-Aspekte im Automotivebereich

14:00 Uhr
T. Mager/ C. Reinhold, Fraunhofer ENAS, ASE/ Univerität Paderborn 
Vorstellung eines neuartigen vektoriellen Nahfeld-Messsystems zur entwurfsbegleitenden Messung elektronischer Baugruppen

14:30 Uhr
Diskussion

15:00 Uhr
Kaffeepause

15:30 Uhr
Zusammenfassung und Verabschiedung sowie Führung durch das Heinz Nixdorf MuseumsForum