Wir laden Sie recht herzlich zu unserem
am Mittwoch, dem 14. November 2018
von 13:00 Uhr bis 17:00 Uhr
am Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS ein.
13:00 Uhr |
Begrüßung Prof. Dr. Sven Rzepka, Fraunhofer ENAS |
13:10 Uhr |
Keynote: Funktionale Sicherheit in automotiven Anwendungen Filippo Vitiello, Conti Temic microelectronic GmbH |
14:00 Uhr |
Concept of future, safety-related smart system with self-testing capabilities Dr. Przemyslaw Gromala, Robert Bosch GmbH |
14:30Uhr |
Entwicklungstrends in der Verbindungstechnik und Herausforderungen an die Zuverlässigkeit Jörg Trodler, Heraeus Materials Technology GmbH & Co KG |
15:00 Uhr |
Pause |
15:30 Uhr |
AVT-bezogene Prognose der Genauigkeit und Zuverlässigkeit von Sensoren und MEMS in rauer Umgebung Prof. Dr. Jürgen Wilde, Albert-Ludwigs-Universität Freiburg |
16:00 Uhr |
Kombinierte experimentelle und simulative Untersuchungen zu Beanspruchungseffekten durch Baugruppenmontage Dr. Rainer Dudek, Fraunhofer ENAS |
16:20 Uhr |
Computational methodologies for integrity assessment of composite structures with embedded sensors Dr. Damaso de Bono, TWI Manchester |
16:40 Uhr |
New measurement and characterization equipment for thermal and thermomechanical effects Mohamad Abo Ras, Berliner Nanotest und Design GmbH |
17:00 Uhr |
Abschluss |
Die Veranstaltung ist kostenfrei.
Bitte senden Sie bis zum 30.10.2018 eine E-Mail mit Ihrer Anmeldung an events@enas.fraunhofer.de.
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme ENAS
Technologie-Campus 3 | 09126 Chemnitz
Seminarleiter
Prof. Dr. Sven Rzepka
Tel.: +49 371 45001-421
sven.rzepka@enas.fraunhofer.de
www.enas.fraunhofer.de
Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme