Leistungsangebot

Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme

Charakterisierung und Test

  • MEMS/NEMS
  • Parametrisches Testen: Waferprober, HP Testsystem
  • Charakterisierung von analog-mixed signal ICs bis 500 MHz
  • Charakterisierung und Modellierung von Bauelementen für low-voltage und high-voltage Mikrotechnologien