Printed Functionalities

Fraunhofer-Institut für Elektronische Nanosysteme

Charakterisierung von Hochfrequenztechnik-Komponenten (Antennen, Filter, Koppler, ...)

Für die detaillierte Charakterisierung (Netzwerk- und Spektralanalyse) von Hochfrequenztechnik- (HF) Komponenten setzen wir eine Vielzahl von Geräten ein:

  • Absorber-Messkammer
  • Netzwerk/Spektrum-Analysator (9 kHz - 6 GHz)
  • Signal-Generator (9 kHz - 6 GHz)
  • Referenz-Antennen mit unterschiedlicher Polarisation und unterschiedlichen Wellenlängenbereichen
  • RFID-Lesesysteme

Kontakt: Ralf Zichner, Telefon +49 371 45001-441

Charakterisierung von gedruckten Batterien

Die gedruckten Batterien und andere, leitende Materialien können mit einer Vielzahl von verschiedenen Werkzeugen charakterisiert werden. Neben gewöhnlichen Messungen der Leitfähigkeit können auch frequenzaufgelöste Messungen mit einem 16-Kanal-Potentiostat durchgeführt werden kann.

Kontakt: Andreas Willert, Telefon +49 371 45001-440

Taktile Profilometrie

Oberflächen verschiedenster Art können mit Hilfe eines Profilometers (Veeco) hinsichtlich folgender Eigenschaften charakterisiert werden.

  • Oberflächenrauheit (arithmetischer Mittenrauwert Ra, quadratischer Mittenrauwert Rq, Gesamthöhe des Profils [Rautiefe] Rt, ...)
  • Schichteigenschaften (maximale Schichtdicke [Peak], durchschnittliche Schichtdicke, ...Dektak 150) 

Oberflächenprofile können über eine lineare Messstrecke sowie über eine Messfläche erstellt werden.

Kontakt: Andreas Willert, Telefon +49 371 45001-440

REM- & EDX-Analysen

Mit Hilfe der Kompakt-REM-Anlage TM-1000 von Hitachi sind mit geringem Zeitaufwand Aufnahmen mit bis zu einem Vergrößerungsfaktor von 10.000 möglich. Ebenso verfügt die Anlage über eine EDX Einheit, welche Materialanalysen zulässt.

Kontakt: Ralf Zichner, Telefon +49 371 45001-441